Centre canadien de microscopie électronique

Université McMaster, Hamilton, Ontario
Que fait l'installation

Services de caractérisation de matériaux et de consultation pour recueillir des données de structure et de constitution à l’échelle micro à nanoatomique par la microscopie électronique et ionique

Domaines d'expertise

Le Centre canadien de microscopie électronique est une solution clé en main aux problèmes de caractérisation des matériaux. Notre personnel chevronné et consciencieux vous aide à déterminer les caractéristiques structurelles et constitutionnelles des matériaux grâce à sa profonde connaissance de la microscopie électronique. En plus de la panoplie de microscopes et de l’espace de préparation d’échantillons du Centre, le personnel possède tout le matériel et le savoir-faire pour former les utilisateurs, recueillir des données diverses, rédiger des rapports de caractérisation et conseiller les utilisateurs sur des aspects bien précis.

Axée sur l’utilisateur, notre installation propose des services de formation à l’emploi de nos instruments et peut aussi procéder à la caractérisation complète des échantillons depuis leur préparation jusqu’au bilan final. Pour appuyer le parcours d’apprentissage et le réseautage de nos utilisateurs, nous leur offrons toute l’année divers tutoriels et ateliers. Nous voulons devenir l’une des plus importantes installations de microscopie électronique au monde quant à la qualité de la recherche scientifique et à la promotion d’interactions entre chercheurs de différents domaines à l’échelle tant nationale qu’internationale.

Services de recherche

Services d’analyse de matériaux, dont l’acquisition et le traitement ou l’interprétation de données, la préparation d’échantillons; services de consultations aux utilisateurs sur les matériaux et l’instrumentation, formation ou information aux utilisateurs.

Secteurs d'application
  • Aérospatial et satellites
  • Automobile
  • Industrie chimique
  • Technologies propres
  • Défense et industrie de la sécurité
  • Énergie (renouvelable et fossile)
  • Technologies et services de l’environnement
  • Technologies de l’information et des communications, et médias
  • Fabrication et transformation
  • Mines, minerais et métaux

Équipement

Fonction

Microscope électronique à balayage (SEM) FEI Magellan 400

Microscope électronique à balayage (SEM) à résolution extrêmement élevée avec résolution sous-nanométrique et fonctionnement de 1 à 30 keV

  • Système de spectrométrie à rayons X à dispersion d’énergie (EDS) Oxford

Microscope électronique à balayage (SEM) JEOL JSM-7000F

Microscope doté d’un canon à effet de champ haute résolution Schottky adapté aux courants de sonde élevés sur petits diamètres de sondage et à la caractérisation de structures à l’échelle nanométrique

  • Enceinte multiusage pour spécimens, platine de spécimen motorisée, échange de spécimens à simple effet et géométrie idéale pour les techniques comme la spectroscopie à rayons X à dispersion d’énergie (EDS), la diffraction d’électrons rétrodiffusés (EBSD) et la lithographie par faisceau d’électrons
  • Résolution de 1,2 nm à 30 keV et 3,0 nm à 1 keV
  • Spectroscope à rayons X à dispersion d’énergie (EDS) Oxford Instruments X-Max50 mm2 et caméra à diffraction d’électrons rétrodiffusés (EBSD) Nordlys II intégrée avec logiciel AZtec EDS/EBSD et logiciel de post-traitement EBSD HKL Channel pour l’acquisition simultanée de données d’éléments (bore et éléments à numéros atomiques plus élevés) et d’orientation cristallographique

Microscope électronique à balayage (SEM) JEOL 6610LV

Microscope électronique à balayage (SEM) à filament de tungstène et sélection de mode à faible dépression permettant l’analyse de spécimens non conductifs sans recours au revêtement métallique lourd

  • Gros caisson d’observation de spécimens d’un diamètre maximum de 200 mm
  • Résolution de 3,0 nm à 30 keV permettant la visualisation d’imagerie de composition en électrons secondaires et rétrodiffusés simultanément

Microscope à balayage en transmission (TEM) FEI Titan 80-300 HB

Microscope électronique en transmission/microscope électronique à balayage en transmission (TEM/STEM) double à correction des aberrations pouvant fonctionner sous plusieurs tensions d’accélération d’imagerie de divers matériaux, dont échantillons sensibles aux faisceaux

  • Source de canon à émission de champ X (X-FEG)
  • 80 keV, 200 keV, 300 keV
  • Monochromateur
  • Correcteurs d’aberrations hexapôle Corrected Electron Optical Systems GmbH (CEOS) sur lentilles d’imagerie et de sondage
  • Super lentille d’objectif réciproque
  • Filtre d’image Gatan (GIF) Quantum (résolution <0,1 eV)
  • Détecteur d’électron direct Gatan Quantum K2
  • Supports à inclinaison simple et double, support de tomographie, cryosupport et support chauffant

Microscope électronique en transmission (TEM) FEI Titan 80-300 LB

Microscope électronique en transmission/microscope électronique à balayage en transmission (MET/MEBT) haute résolution à correction d’image fonctionnant à 80 keV, 200 keV et 300 keV

  • Source de canon à émission de champ X (X-FEG)
  • Monochromateur
  • Lentille d’objectif cryodouble à grand écart
  • Correcteur d’aberrations hexapôle Corrected Electron Optical Systems GmbH (CEOS) sur la lentille d’imagerie
  • Spectromètre Gatan Tridiem (résolution <0,1 eV)
  • Spectroscope à rayons X à dispersion d’énergie (EDS) Oxford
  • Supports à inclinaison simple et double, support de tomographie, cryosupport, support chauffant, support de cellule liquide

Microscope à balayage en transmission (TEM) Philips CM12

Microscope à balayage en transmission (TEM) d’analyse pour usage général avec filament d’hexaborure de lanthane (LaB6) fonctionnant à 120 keV et plage de grossissement de 30 à 660 000

Microscope à balayage en transmission (TEM) Jeol 2010F

Microscope électronique en transmission/microscope électronique à balayage en transmission (TEM/STEM) adapté à la diffraction de nanofaisceaux et de faisceaux convergents jusqu’à l’imagerie haute résolution à contraste de phase et à énergie filtrée

  • Spectroscope à rayons X à dispersion d’énergie (EDS) Oxford
  • Spectromètre Gatan Tridiem
  • Supports à inclinaison simple et double, support de liquide électrochimique in situ

Faisceau ionique concentré (FIB) Zeiss NVision 40

Instrument à ions de gallium (Ga+) double faisceau combinant un microscope électronique à balayage (MEB) à émission de champ Schottky avec un faisceau focalisé d’ions de gallium (Ga+)

  • Tomographie à faisceau ionique (FIB) 3D
  • Spectroscopie à rayons X à dispersion d’énergie (EDS) avec un détecteur à dérive au silicium
  • Navette et platine froide complémentaires de système polyvalent de transfert cryogénique Leica EM (VCT100)

Tomographie à faisceau ionique (FIB) concentré plasma Thermo Scientific Helios G4 UXe DualBeam

Source d’ions de xénon (Xe+) à couplage à plasma (ICP) avec un courant ionique maximum de 2,5 µA

  • Colonne à électrons de canon à émission de champ (FEG) dotée d’un UniColore (correcteur d’aberrations chromatiques de seconde génération UC+)
  • Tomographie à faisceau ionique (FIB) 3D haut débit

Sonde de tomographie atomique (APT) Cameca LEAP 4000X HR

Analyse tridimensionnelle de matériaux à l’échelle sous-nanométrique

  • Laser ultraviolet (longueur d’ondes 355 nm)Analyses de dopants dans les semi-conducteurs, d’éléments d’alliage, de profils de concentration avec regroupement et sensibilité atomique

Microsonde Auger à émission de champ (FE-Auger) JEOL JAMP-9500F

La microsonde Auger à émission de champ est un instrument très sensible d’analyse des surfaces

  • Diamètre minimal de la sonde de 8 nm et résolution à énergie élevée
  • Analyseur d’énergie électrostatique hémisphérique à grand angle d’admission et détecteur multicanal; les éléments peuvent être détectés en concentrations allant jusqu’à 0,2 pour cent atomique
  • Microscope électronique à balayage (SEM) incorporé et spectroscope à rayons X à dispersion d’énergie (EDS)
  • Canon ionique in situ adapté au profilage de profondeur de l’ordre de quelques centaines de nanomètres