Installation de caractérisation des matériaux (MCF)

Université Ontario Tech, Oshawa, Ontario
Que fait l'installation

Soutenir le développement de nouveaux matériaux et réaliser des travaux de recherches sur les matières dures et molles de façon à obtenir une longueur d’avance et à mettre en pratique les découvertes.

Domaines d'expertise

Axée sur la science, la technologie et l’innovation, l’installation permet d’accéder à une gamme de ressources et de services pour appuyer des démarches de recherche et de développement en science des matériaux. Exploités par une équipe multidisciplinaire d’experts et expertes de calibre mondial, les instruments modernes de préparation, de traitement et de caractérisation des surfaces intégrés à l’installation, permettent d’analyser rigoureusement et de mettre au point rapidement de nouveaux matériaux et de nouvelles technologies. Une grande sélection d’instruments haut de gamme et le recours à une approche individuelle pour relever chaque défi scientifique ou technologique nous permettent de concevoir une expérience et de choisir la technique la plus appropriée, pour satisfaire pleinement aux attentes des clients et dans la limite de leurs budgets.

Services de recherche
  • Composition chimique des surfaces (spectroscopie photoélectronique à rayons X et électronique Auger, spectroscopie à rayons X à dispersion d’énergie, spectroscopie UV-visible et Raman, spectroscopie de perte d’énergie d’électrons réfléchis);
  • Topographie des surfaces (microscopie à force atomique et profilométrie tridimensionnelle);
  • Morphologie des surfaces (microscopie électronique à balayage et microscopie optique);
  • Mesure de l’aire superficielle (absorption d’azote);
  • Propriétés thermoanalytiques et stabilité thermique (calorimétrie différentielle à balayage et analyse thermogravimétrique);
  • Revêtement de couches minces (dépôt de pellicules métalliques, carboniques, organiques et inorganiques par techniques sous vide et de chimie par voie humide) et analyse de pellicules minces (ellipsométrie, microscopie à force atomique);
  • Possibles analyses des surfaces de spécimens sensibles à l’air et à l’humidité par spectroscopie de photoélectrons X (XPS), Raman et de perte d’énergie d’électrons réfléchis (REELS).
Secteurs d'application
  • Industrie chimique
  • Technologies propres
  • Énergie (renouvelable et fossile)
  • Technologies et services de l’environnement
  • Sciences de la vie, produits pharmaceutiques et équipement médical
  • Fabrication et transformation

Équipement

Fonction

Système Nexsa de Thermo Scientific

 

Spectroscopie de photoélectrons X (XPS), spectroscopie électronique Auger (AES), spectroscopie de perte d’énergie d’électrons réfléchis (REELS) et Raman. Spectroscopie photoélectronique à rayons X (technique non destructive d’analyse des surfaces servant à déterminer la composition atomique quantitative et l’état chimique d’éléments constituant une surface de matériau solide).

Microscope électronique à balayage (MEB) FlexSEM 1000 de Hitachi doté d’un détecteur à rayons X à dispersion d’énergie (EDS) et refroidissement par effet Peltier

Imagerie de la surface de spécimens sous haute et basse tension d’accélération, à une résolution maximale de 5 nm. Analyse élémentaire quantitative et mappage par détecteur EDS.

Profilomètre Profilm3D

Mesure à l’échelle micrométrique sans contact du profil des surfaces par interférométrie en lumière blanche (WLI) de pointe.

Microscope-sonde à balayage multifonctionnel NTEGRA de NT-MDT

Accomplissement de la plupart des tâches courantes dans le domaine de la microscopie à force atomique (AFM).

Analyseur de surface selon la théorie Brunauer–Emmett–Teller (BET) NOVA 1200e

Analyse de l’aire superficielle et de la taille des pores.

Analyseur thermique SDT Q600 de TA Instruments

Analyse thermique par mesure du courant thermique (calorimétrie différentielle à balayage) et des variations pondérales (analyse thermogravimétrique) dans un matériau en fonction de la température sous atmosphère contrôlée (argon ou air sec).

Ellipsomètre multilongueur d’ondes de Film Sense

Mesure de l’épaisseur pelliculaire.

Spectrophotomètre UV-visible-proche infrarouge LAMBDA 750 de PerkinElmer

Spectroscopie UV-visible d’échantillons solides, pellicules et revêtements.