Centre de recherche et d’innovation en catalyse (CRIC) Plate-forme de recherche sur la caractérisation des matériaux

Université d'Ottawa, Ottawa, Ontario
Que fait l'installation

Caractérisation des matériaux nanostructurés et des catalyseurs. Le centre abrite également la plateforme de criblage haut débit.

Domaines d'expertise

Les installations de caractérisation des matériaux offrent des services d’analyse et ouvrent leurs portes à 10 groupes de recherche des facultés des sciences, de génie et de médecine ainsi qu’à des clients externes de l’industrie et de laboratoires nationaux. La possibilité de caractériser de nouveaux matériaux avec un éventail d’instruments à la fine pointe de la technologie est sans contredit un avantage unique pour le centre et pour les utilisateurs affiliés à l’Université d’Ottawa.

Services de recherche

Microscopie électronique (microscopie électronique à balayage [MEB], microscopie électronique à transmission [MET] et cryo-MET) avec analyse élémentaire et spectroscopie de pertes d’énergie d’électrons ainsi qu’instruments connexes de préparation d’échantillons, Microscopie à force atomique avec interfaçage de spectroscopie Raman, Spectroscopie de photoélectrons XPS avec spectroscopie de masse des ions secondaires (SIMS) et spectroscopie de photoélectrons UV (UPS), analyse thermique avec spectrométrie de masse (SM) et détection infrarouge (IR), analyse des surfaces et des porosités, analyse granulométrique et électrochimie

Secteurs d'application
  • Industrie chimique
  • Technologies propres
  • Éducation
  • Énergie (renouvelable et fossile)
  • Technologies et services de l’environnement
  • Foresterie et industrie forestière
  • Sciences de la vie, produits pharmaceutiques et équipement médical
  • Fabrication et transformation
  • Mines, minerais et métaux

Nom du laboratoire spécialisé

Nom de l’équipement

Résumé de la fonction

Installations de microscopie électronique

Microscope électronique à transmission par émission de champ JEM-2100F et microscope électronique à balayage à émission de champ JSM-7500F (JEOL)

Imagerie de matériaux nanostructurés haute résolution

 

Microscope électronique à transmission FEI, adaptée à la cryo-MET, à la tomographie et à la microscopie électronique à corrélation par fluorescence

Imagerie haute résolution de matériaux meubles et de spécimens biologiques

 

Matériel de préparation d’échantillons, dont polisseur ionique de précision, système de nettoyage à plasma, système de revêtement par pulvérisation, ultramicrotome, ultracentrifugeuse, four à dépression et système d’usinage ionique

Préparation d’échantillons pour la microscopie électronique

 

Microscope Raman interfacé avec un microscope-sonde à balayage adapté à la spectroscopie Raman exaltée de surface et à la cartographie

Identification et cartographie des structures chimiques

 

Microscope à force atomique

Analyse de l’état de la surface

Installations d’analyse des surfaces

Spectromètre de photoélectrons XPS

Caractérisation de la surface des particules, notamment avec des analyses élémentaires et la détermination du degré d’oxydation des métaux

 

Porosimètre et profilomètre

Détermination de l’état de la surface et de la porosité des solides

Installations d’analyse thermique

Calorimètre à compensation de puissance et analyseur thermogravimétrique équipé des spectromètres de masse et infrarouge

Évaluation des propriétés thermiques de solides et détection des gaz émis lors de leur décomposition

Installations de caractérisation des matériaux

Analyseur du potentiel zêta des particules

Détermination de la taille des particules par la diffusion de lumière

 

Analyseur électrochimique

Utilisé pour un large éventail d’essais électrochimiques