Laboratoire analytique d’expertise-conseil et de recherche accrédité ISO 17025 et spécialisé dans l’analyse et la caractérisation des surfaces et des matériaux
Fondé en 1981, le laboratoire est reconnu à l’échelle mondiale à titre de chef de file en matière d’analyse des surfaces et de caractérisation des matériaux. L’installation a servi avec succès une clientèle notoire provenant de plusieurs secteurs d’activité : fabrication, automobile, énergie, ressources minérales, soins de santé, aérospatiale, environnement, électronique, polymères et plastiques. Grâce à sa prestation de services à un large éventail de clients provenant aussi bien des petites entreprises de fabrication de matériel que des géants industriels, le laboratoire s’est forgé une réputation enviable à l’égard de la qualité et de la ponctualité de ses services et de leur caractère novateur.
Fort d’un total de 250 personnes-années d’expérience et de la compétence sans pareille de ses chercheurs dans l’interprétation, l’installation accréditée ISO 17025 est aussi l’un des laboratoires parmi les mieux outillés au Canada pour l’analyse des surfaces et des matériaux. Situé dans le complexe Discovery Research Park de l’Université Western Ontario à London en Ontario, le laboratoire offre aux clients l’accès direct et pratique à des professionnels hautement compétents et expérimentés ainsi qu’à des techniques d’analyse de pointe.
Caractérisation de matériaux, analyse de défaillance matérielle et corrosive, mise à l’essai analytique, analyse des surfaces, épreuves de contrôle de la qualité, analyse de défectuosité, développement de produits, expertise-conseil, analyse de défectuosité de peinture, analyse de défaillance d’adhésion, caractérisation de polymères, identification de microplastiques, minéralogie, optimisation du procédé de séparation des minerais, altération météorique et pulvérisation saline en enceinte, essais électrochimiques, recherche et développement contractuels, formation de personnel hautement qualifié
- Automobile
- Industrie chimique
- Énergie
- Fabrication et transformation
- Mines, minerais et métaux
Laboratoires et équipements spécialisés
Équipement |
Fonction |
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Appareil de spectroscopie de masse d’ions secondaires (SIMS) IMS-3f de Cameca |
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Appareil de spectroscopie de masse d’ions secondaires (SIMS) IMS-6f de Cameca |
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Appareil de spectroscopie de masse d’ions secondaires à temps de vol (TOF-SIMS IV) d’IONTOF |
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Microscope (MEB) à champs par émission d’ions ultra-haute résolution Regulus SU8230 de Hitachi
Détecteur annulaire quadripôle pour la spectroscopie des rayons X par dispersion d’énergie XFlash FQ5060 Annular Quad EDX de Bruker
Détecteur pour la spectroscopie des rayons X par dispersion d’énergie XFlash 6160 de Bruker |
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Microscope électronique à balayage à pression variable SU3500 d’Hitachi combiné à un détecteur au silicium à diffusion pour l’analyse aux rayons X, modèle AZtec X‑Max50 d’Oxford Instruments |
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Microscope électronique à balayage à pression variable SU3900 d’Hitachi combiné à un détecteur au silicium à diffusion pour l’analyse aux rayons X, modèle ULTIM MAX 65 d’Oxford Instruments |
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Spectromètre des photoélectrons induits par rayonnement X, modèle AXIS Supra de Kratos |
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Spectromètre de photoélectrons X, modèle AXIS Nova de Kratos |
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Microscope Raman, modèle inVia Reflex de Renishaw |
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Nanosonde Auger à balayage PHI 710 de Physical Electronics |
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Profilomètre à stylet Tencor P-17 de KLA-Tencor |
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Microscope à force atomique XE-100 de Park Systems |
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Spectromètre infrarouge à transformée de Fourier Tensor II avec microscope Hyperion 2000, le tout de Bruker |
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Microscope numérique VHX-6000 de Keyence |
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Microscope composé Zeiss Axioplan (connecté à un microscope numérique Keyence VHX-950F de Keyence) |
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Stéréomicroscope Zeiss SteREO Discovery.V8 connecté à un microscope numérique VHX-950F de Keyence |
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Duromètre par micro-indentation LECO LM-100 |
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Analyseurs de réponse de fréquence et potentiostats de précision ModuLab XM ECS de Solartron |
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Analyseur de réponse de fréquence (FRA) 1260 de Solartron |
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Potentiostat 1287 de Solartron |
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Appareil de mesure d’angle de contact DSA30E de Kruss |
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Testeur de corrosion cyclique Q-FOG CRH |
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Enceinte de test à arc au xénon Q-SUN Xe-3 |
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Enceinte d’altération météorique accélérée par pulvérisation QUV |
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Analyseur calorimétrique à compensation de puissance DSC 3 de Mettler Toledo |
L’analyse calorimétrique différentielle (ACD) est la mesure des variations d’enthalpie dues aux altérations physiques et chimiques des propriétés d’un matériau en fonction de la température ou du temps. Cette méthode permet d’identifier ou de comparer des matériaux et de les caractériser en fonction de leur structure ou leur emploi. |
Analyseur thermogravimétrique TGA 2 de Mettler Toledo |
L’analyse thermogravimétrique (TGA) permet de mesurer la masse d’un échantillon pendant son réchauffement ou son refroidissement en atmosphère contrôlée. La TGA est principalement utilisée pour la caractérisation des composantes des matériaux. |
Microscope à balayage laser LSM 800 de Zeiss pour matériaux avec microscope composé vertical Axio Imager.Z2m de Zeiss |
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Xradia 410 Versa de Zeiss |
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Diffractomètre à rayons X SmartLab 3kW de Rigaku |
La diffraction à rayons X (XRD) est une technique d’analyse servant à déterminer les phases d’un vaste éventail de matériaux cristallins, tels minéraux, produits de corrosion, pellicules fines, matériaux bruts et polymères. Le diffractomètre à rayons X peut également servir à mesurer l’épaisseur de très minces pellicules, de même que les contraintes/pressions résiduelles à l’intérieur des matériaux. Les échantillons tant solides qu’en poudre peuvent être analysés. |