Plate-formes technologiques à rayons X

Université d'Ottawa, Ottawa, Ontario
Que fait l'installation

Diffraction de rayons X (XRD) sur monocristaux et sur poudre, fluorescence de rayons X (XRF).

Domaines d'expertise

Les plate-formes offrent des services d’analyse d’échantillons par diffraction de rayons X sur monocristaux (SCXRD), par diffraction de rayons X sur poudre (PXRD) et par fluorescence de rayons X (XRF). Les trois techniques sont complémentaires et sont couramment utilisées par les scientifiques des matériaux, les chimistes, les physiciens, les géologues et les ingénieurs. Le laboratoire dispose de deux diffractomètres de rayons X sur monocristaux, de deux diffractomètres de rayons X sur poudre et d’un spectromètre à fluorescence de rayons X.

Services de recherche

Diffraction de rayons X sur monocristaux, diffraction de rayons X sur poudre, fluorescence de rayons X

Secteurs d'application
  • Industrie chimique
  • Technologies propres
  • Éducation
  • Énergie (renouvelable et fossile)
  • Sciences de la vie, produits pharmaceutiques et équipement médical
  • Fabrication et transformation

Nom du laboratoire spécialisé

Nom de l’équipement

Résumé de la fonction

Plate-formes technologiques à rayons X

Diffractomètre de rayons X sur monocristaux KAPPA APEX II de Bruker

Goniomètre KAPPA à quatre cercles assorti du capteur CCD APEX II. La source de radiation est un tube scellé à focalisation fine ayant une cible de molybdène, combiné à un monochromateur TRIUMPH, qui permet d’exposer l’échantillon à un faisceau d’une intensité trois fois plus élevée que celui des monochromateurs des générations précédentes.

 

Diffractomètre de rayons X sur monocristaux SMART APEX II de Bruker

Goniomètre à trois cercles assorti du capteur CCD APEX II. La source de radiation est un tube scellé à focalisation fine ayant une cible de molybdène, combiné à un collimateur MONOCAP pour augmenter l’intensité du faisceau.

 

Diffractomètre sur poudre PW3020 X’Pert de Philips

Système d’usage général thêta-2-thêta assorti d’un goniomètre double et d’un long tube à rayons X à focalisation fine ayant une anode en cuivre. L’un des goniomètres sert à effectuer des mesures standard de la diffraction, alors que l’autre est employé pour l’étude des transitions de phases des échantillons et est couplé à des caméras Anton Paar pour températures basses (~80 à 575 K) ou élevées (jusqu’à 1300 °C).

 

Diffractomètre sur poudre Ultima IV de Rigaku

Système d’usage général thêta-thêta doté d’une source en cuivre et assorti d’un monochromateur à faisceau diffracté pouvant être employé pour émettre des faisceaux convergents ou parallèles; configuré pour l’usage avec fentes de largeur fixe ou variable, cette dernière configuration facilitant la mesure de données à angles faibles. L’ajout d’un appareil de diffraction des rayons X à petits angles (SAXS) permet de déterminer la taille de particules ou de pores de nanomatériaux (de 1 nm à 100 nm) en mode transmission. Un microscope et un plateau de microscopie permettent la cartographie d’un échantillon selon l’axe des x et des y en balayant diverses positions selon les deux axes avec des faisceaux très fins obtenus grâce à une fente de sélection conçue à cet effet.

 

Spectromètre dispersif en longueur d’ondes séquentiel de haute puissance Supermini 200

Analyses élémentaires d’oxygène (O) au moyen d’uranium (U). L’analyse par fluorescence de rayons X est prise en charge par un laboratoire de préparation des échantillons : un fluxeur de Claisse pour les disques de verre et une presse Carver pour les granules comprimés.