Caractérisation complète des nanomatériaux et des nanosystèmes
Ces installations comportent une série complète d’instruments modernes pour la caractérisation des nanomatériaux, des nanocomposites, des nanodispositifs et d’autres systèmes apparentés. La caractérisation peut comprendre la microscopie électronique à balayage pour l’analyse de la morphologie et de la composition des surfaces et des particules nanostructurées; la diffraction et la diffusion des rayons X pour la structure cristalline et la granulométrie des nanoparticules; la spectroscopie optique pour les propriétés compositionnelles, microstructurelles et photophysiques; et les caractérisations thermomécaniques pour l’analyse des nanocomposites.
Accès en libre-service ou comme service tarifié à des appareils et des installations uniques de caractérisation des nanomatériaux; accords de recherche en collaboration
- Aérospatial et satellites
- Automobile
- Industrie chimique
- Technologies propres
- Défense et industrie de la sécurité
- Énergie
- Technologies de l’information et des communications, et médias
- Sciences de la vie, produits pharmaceutiques et équipement médical
- Fabrication et transformation
Laboratoires et équipements spécialisés
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Équipement |
Fonction |
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Hitachi S-4800 FE-SEM (microscope électronique à balayage à émission de champ) |
Outil polyvalent courant de caractérisation superficielle et morphologique à l’échelle nanométrique |
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Hitachi S-3000N (microscope électronique à balayage pour la recherche et d’effets environnementaux) |
Microscope électronique à balayage capable de haute pression pour la dissipation des charges et la recherche d’effets environnementaux |
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Diffractomètre à rayons X D8 Discover de Bruker |
Caractérisations régulières et avancées par diffraction des rayons X, comme la structure cristalline, la composition, etc. |
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Analyseur de diffusion des rayons X aux petits angles (SAXS) NANOSTAR de Bruker |
Granulométrie des nanoparticules entre 1 nm et 125 nm par analyse de la diffraction des rayons X |
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Spectrophotomètre LAMBDA 1050 de PerkinElmer (ultraviolet, visible, infrarouge proche) |
Spectroscopie de 175 nm à 2500 nm par transmission ou réflexion, le spectrophotomètre est doté d’une sphère d’intégration de 150 mm |
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Microspectroscope Raman DXR2 de Thermo Scientific |
Analyse chimique et cartographie grâce à la diffusion inélastique de la lumière |
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Microspectroscope pour l’infrarouge par transformée de Fourier Cary 670 d’Agilent |
Analyse chimique et cartographie grâce à l’absorption de lumière infrarouge |
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Spectrofluomètre à l’état stable dans l’ultraviolet et le visible QuantaMaster 40 de Photon Technology International (PTI QM-40) |
Spectrofluomètre en excitation ou émission par balayage, muni d’une sphère d’intégration |
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Spectromètre de l’émission dans le visible couplé à une source plasma induit de Thermo Scientific (iCAP 7400 Duo ICP-OES) |
Analyse quantitative de la composition des traces de contenu métallique des matériaux |
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Analyseur par diffusion Nano ZS de Malvern Zetasizer |
Mesure de la taille et du potentiel zêta des particules à l’aide de la diffusion de lumière visible |
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Analyseur thermogravimétrique Q50 de TA Instruments |
Analyse de la dégradation thermique des matériaux dans l’air ou dans un environnement inerte à des températures allant jusqu’à 1000 °C |
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Calorimètre différentiel à balayage Q2000 de TA Instruments |
Analyse de l’absorbance de chaleur par des matériaux |
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Rhéomètre hybride Discovery DHR-3 de TA Instruments |
Caractérisation des propriétés rhéologiques des matériaux |
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Système d’essai mécanique universel Instron 5966 |
Mesure des propriétés mécaniques des matériaux sous compression ou sous tension |
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Analyseur du taux de transmission d’oxygène OX-TRAN 1/50 de MOCON |
Mesure du taux de transmission d’oxygène à travers des pellicules semi-perméables |