Installation de recherche sur la caractérisation de nanomatériaux - Centre de recherche en nanotechnologie

Conseil national de recherches Canada, Edmonton, Alberta
Que fait l'installation

Caractérisation complète des nanomatériaux et des nanosystèmes

Domaines d'expertise

Ces installations comportent une série complète d’instruments modernes pour la caractérisation des nanomatériaux, des nanocomposites, des nanodispositifs et d’autres systèmes apparentés. La caractérisation peut comprendre la microscopie électronique à balayage pour l’analyse de la morphologie et de la composition des surfaces et des particules nanostructurées; la diffraction et la diffusion des rayons X pour la structure cristalline et la granulométrie des nanoparticules; la spectroscopie optique pour les propriétés compositionnelles, microstructurelles et photophysiques; et les caractérisations thermomécaniques pour l’analyse des nanocomposites.

Services de recherche

Accès en libre-service ou comme service tarifié à des appareils et des installations uniques de caractérisation des nanomatériaux; accords de recherche en collaboration

Secteurs d'application
  • Aérospatial et satellites
  • Automobile
  • Industrie chimique
  • Technologies propres
  • Défense et industrie de la sécurité
  • Énergie
  • Technologies de l’information et des communications, et médias
  • Sciences de la vie, produits pharmaceutiques et équipement médical
  • Fabrication et transformation

Équipement

Fonction

Hitachi S-4800 FE-SEM (microscope électronique à balayage à émission de champ)

Outil polyvalent courant de caractérisation superficielle et morphologique à l’échelle nanométrique

Hitachi S-3000N (microscope électronique à balayage pour la recherche et d’effets environnementaux)

Microscope électronique à balayage capable de haute pression pour la dissipation des charges et la recherche d’effets environnementaux

Diffractomètre à rayons X D8 Discover de Bruker

Caractérisations régulières et avancées par diffraction des rayons X, comme la structure cristalline, la composition, etc.

Analyseur de diffusion des rayons X aux petits angles (SAXS) NANOSTAR de Bruker

Granulométrie des nanoparticules entre 1 nm et 125 nm par analyse de la diffraction des rayons X

Spectrophotomètre LAMBDA 1050 de PerkinElmer (ultraviolet, visible, infrarouge proche)

Spectroscopie de 175 nm à 2500 nm par transmission ou réflexion, le spectrophotomètre est doté d’une sphère d’intégration de 150 mm

Microspectroscope Raman DXR2 de Thermo Scientific

Analyse chimique et cartographie grâce à la diffusion inélastique de la lumière

Microspectroscope pour l’infrarouge par transformée de Fourier Cary 670 d’Agilent

Analyse chimique et cartographie grâce à l’absorption de lumière infrarouge

Spectrofluomètre à l’état stable dans l’ultraviolet et le visible QuantaMaster 40 de Photon Technology International (PTI QM-40)

Spectrofluomètre en excitation ou émission par balayage, muni d’une sphère d’intégration

Spectromètre de l’émission dans le visible couplé à une source plasma induit de Thermo Scientific (iCAP 7400 Duo ICP-OES)

Analyse quantitative de la composition des traces de contenu métallique des matériaux

Analyseur par diffusion Nano ZS de Malvern Zetasizer

Mesure de la taille et du potentiel zêta des particules à l’aide de la diffusion de lumière visible

Analyseur thermogravimétrique Q50 de TA Instruments

Analyse de la dégradation thermique des matériaux dans l’air ou dans un environnement inerte à des températures allant jusqu’à 1000 °C

Calorimètre différentiel à balayage Q2000 de TA Instruments

Analyse de l’absorbance de chaleur par des matériaux

Rhéomètre hybride Discovery DHR-3 de TA Instruments

Caractérisation des propriétés rhéologiques des matériaux

Système d’essai mécanique universel Instron 5966

Mesure des propriétés mécaniques des matériaux sous compression ou sous tension

Analyseur du taux de transmission d’oxygène OX-TRAN 1/50 de MOCON

Mesure du taux de transmission d’oxygène à travers des pellicules semi-perméables