Que fait l'installation
Effectue la caractérisation optique de systèmes à l’échelle micro- et nanométrique, notamment de dispositifs à base de silicium, pour des applications en télécommunications, en biodétection et en énergie durable et renouvelable.
Domaines d'expertise
Le Laboratoire de micro et nanophotonique soutient la recherche sur les technologies optoélectroniques avancées à l’échelle micro- et nanométrique. Ses capacités de caractérisation et de simulation permettent la conception, le prototypage et la mise à l’essai de dispositifs destinés à des applications dans les domaines des télécommunications, de la détection et des technologies de cellules solaires.
Services de recherche
- Photonique
- Essais à l’échelle nanométrique
- Simulation de dispositifs
Secteurs d'application
- Technologies propres
- Énergie
- Technologies et services de l’environnement
- Soins de santé et services sociaux
- Technologies de l’information et des communications, et médias
Laboratoires et équipements spécialisés
| Équipement | Fonction |
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| Analyseur de paramètres OVA 5000 | Comprend la mesure IL, RL, GD, CD, PMD, PDL, PMD de 2e ordre, la réponse impulsionnelle temporelle et la fonction de transfert linéaire pour les dispositifs de longueur optique allant jusqu’à 150 mètres en mode transmission et 75 mètres en mode réflexion. Comprend : • Bande C+L (1525 -1610 nm) • Logiciel d’analyse de bureau • Logiciel d’analyse de polarisation
|
| Lumerical, RSoft, COMSOL, FIMMWAVE | Trousses de modélisation logicielle |
| Source laser accordable (modèle 4200) | Couverture de 1260 à 1680 nm, avec longueurs d’onde spécialisée à 840 et 980. Taux de balayage standard à 100 nm/seconde à STSE > 50-65 dB STSE pour la caractérisation en puits profond. Les options des dispositifs comprennent la polarisation intégrée, l’atténuation, le contrôle de la puissance, la mesure de la longueur d’onde à 1 pm avec détection de sauts de mode et la correction. |
| MPS 150 (système de sonde manuelle 150 mm) | Adapté aux applications telles que les mesures C-V/I-V, RF, mm-ondes et sub-THz, la caractérisation de dispositifs et de plaquettes (DWC), l’analyse des défaillances (FA), le sondage submicronique, les microsystèmes de sondage électromécanique (MEMS) et les essais d’ingénierie optoélectronique. |
Partenaires de recherche des secteurs privé et public
- Conseil national de recherches du Canada (CNRC)
- Institut de cardiologie de l'Université d’Ottawa